包装完整性测试仪
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测厚仪是一种高精度的测量设备,专门用于测定各种薄膜、薄片、纸张、箔片等材料的厚度。这类仪器在包装、塑料、造纸、电子、半导体等行业中至关重要,确保产品的一致性和质量控制。
泉科瑞达薄膜测厚仪设计遵循如GB/T6672等国家标准,分辨率可达0.01μm,适用于不同硬度的薄膜。
CHY-02H薄膜测厚仪
CHY-03测厚仪(自动进样)
CHY-02B测厚仪
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